特許

[1]発明者:佐々木真人、発明名称:放射線計測システム及び光学系、出願番号:特願2014-265993(出願日20141226日)、特許権者:東京大学

[2] 発明者:佐々木真人、発明名称:放射線計測装置及び放射線計測システム、出願番号:特願2014-508245、国際出願番号:PCT/JP2013/059779(出願日2012331日)、特許権者:佐々木真人

[3] 発明者:佐々木真人、発明名称:撮像光学系及び撮像装置、出願番号:特願2013-70634、国際出願番号:PCT/JP2014/59376(出願日2013328日)、特許権者:佐々木真人

[4]発明者:佐々木真人、野田浩司、浅岡陽一、発明名称:真空容器及びその製造方法、出願番号:特願 2013-510866、国際出願番号:PCT/JP2012/063563 (出願日 2012 5 25 日)、国際公開番号:WO2012/165357 A1(公開日 2012 12 6 日)、許権者:佐々木真人

[5] 発明者:佐々木真人、発明の名称:計測システム、出願番号:特願2013-099731(出願日201359日)、公開番号:特開2014-219330 (公開日 2014 11 20 日)、特許権者:東京大学

[6] 発明者:佐々木真人、発明の名称:光走査装置及び計測システム、出願番号:特願2012-237175(出願日20121026日)、公開番号:特開2014-085646 (公開日 2014 5 12 日)、特許権者:東京大学

[7] 発明者:佐々木真人、発明の名称:ミラー及びその製造方法、出願番号:特願2011-068980(出願日2011325日)、公開番号:特開2012-203268 (公開日 2012 10 22 日)、特許権者:東京大学

[8] 発明者:佐々木真人、発明の名称:撮像装置、リレー光学系、及び計測システム、出願番号:特願2010-116802(出願日2010520日)、公開番号:特開2011-244357 (公開日 2011 12 1 日)、特許番号:特許第 5655211 号(登録日 2014 12 5 日)、特許権者:東京大学

[9] 発明者:佐々木真人、発明の名称:光電撮像センサ及びそれに用いられる出力電極アレイ、出願番号:特願 2006-510811、国際出願番号:PCT/JP2005/004213 (出願日 2005 3 10 日)、国際公開番号:WO2005/086202 A1(公開日 2005 9 15 日)米国出願番号:No.10/591938(出願日 2005 3 10 日)、登録番号(United States Patent ):7476838(登録日 2009 1 13 日)、特許権者:東京大学

[10] 発明者:佐々木真人、発明の名称:反射光学系、及び反射型光学系の制御方法、出願番号:特願2004-168402(出願日200467日)、公開番号:特開2005-345959(公開日 2005 12 15 日)、特許番号:特許第 4617459 号(登録日 2010 11 5 日)特許権者:佐々木真人

[11] 発明者:佐々木真人、発明の名称:リアルタイム信号認識装置および方法、出願番号:特願2004-112054(出願日200446日)、公開番号:特開2005-301342 (公開日 2005 10 27 日)、特許番号:特許第 3951037 号(登録日 2007 5 11 日)、特許権者:佐々木真人

[12] 発明者:佐々木真人、青木利文、新井康夫、発明の名称:2次元マクロセル制御イメージセンサ、撮像素子、及び撮像方法、出願番号:特願2003-203805(出願日 2003 7 30 日)、公開番号:特開 2005-51352(公開日 2005 2 24 日)、特許番号:特許第3993541号(登録日200783日)、特許権者:佐々木真人

[13] 発明者:佐々木真人、発明の名称:光分配型撮像装置、願番号:特願2002-374243 (出願日 2002 12 25 日)、公開番号:特開 2004-207980(公開日 2004 7 22 日)、特許番号:特許第 4284671 号(登録日 2009 4 3 日)特許権者:佐々木真人